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【倒计时1天】安立线G RIS 测试测量挑战和解决方案 |
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作者:佚名 文章来源:本站原创 点击数: 更新时间:2024/9/7 18:32:39 | 【字体:小 大】 |
林森浩被核准死刑9/02/2024,光纤在线讯,此研讨会我们将讨论6G通信技术的挑战和解决方案。在5G/6G毫米波频段下,面临高传播损耗和精密超材料操控等重大挑战。如何延伸现有Sub-6GHz仪器,除了有效达到毫米波频段的测试需求,并满足5G/6G通信系统所需要的宽频带、高吞吐量以及高连结性等测试,仰赖信号源与分析仪的品质与整合度。
在多设备的环境中,高连接性也存在稳定性和效率的议题。为满足6G应用中多样的测试需求,我们提出创新的测试与量测方案,以提供高频段、高连接性、宽频等测试能力,并能在复杂的测试情境中,动态地适应不同场景和变化。安立公司与TMYTEK的先进「5GNR信号生成与分析」解决方案,致力于解决这些关键挑战,为6G技术的发展提供了重要支持。
研讨会中将探讨6G测试与测量解决方案在可重构智能表面(RIS)前沿研究中的关键角色。在6G网络中,RIS测试是提升信号覆盖和网络性能的关键技术。为了充分发挥RIS的潜力,必须进行全面的测试与测量。在本次研讨会中,我们将深入探讨如何利用安立公司矢量信号发生器MG3710E、信号分析仪MS2850A、TMYTEK升/降频器UDBox/UDModule0620、波束赋形器BBoxOne等工具进行RIS测试与测量:
2.VSG和VSA提供精确的信号生成和深入的信号质量分析,有助于评估RIS的实际应用效果。
3.BBox5G系列集成关键的波束成形元件,配合TMXLABKit(TLK)的GUI,允许轻松调整波束角度,从而优化信号质量。
RIS的测试可以通过空口测试(OTA),在暗室中对反射信号进行3D扫描,以评估其各种性能指标,如误差向量幅度(EVM)和指向性精度。当RIS部署于蜂窝网络时,其对多路径环境的影响亦须透过覆盖测量和信道探测进行详细评估。除了频谱测量,还需分析星座图和EVM性能,以获得关键的RIS性能数据。针对高频测量挑战的解决方案,可经济有效地测量指向性、增益、旁瓣和偏转角等参数,为RIS开发提供全面支持。
2024年9月3日15:00研讨会准时开始,长按识别下方二维码注册报名,深入了解安立与TMYTEK的前沿RIS测试方案,探索6G技术的未来潜力!
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